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| 稿件标题： | 基于ＰＸＩ的某雷达显控系统综合检测设备 |
| 稿件作者： | 姜广顺，伏新卯，崔军峰，马永平，杨召甫 |
| 栏目名称： | 光学工程与电子技术 |
| 关键词： | 虚拟仪器；ＬａｂＶＩＥＷ；显控系统；综合检测设备 |
| 文章摘要： | 针对某雷达显控系统修理过程中存在的检测周期长、检测结果的准确性难以保证等问题，结合对当今先进的测试系统理论和技术，构建了一套基于ＰＸＩ总线和ＬａｂＶＩＥＷ的专用综合检测设备，并在工厂装备修理中得到应用检验。利用该设备，可大大提高显控系统检测的准确性，缩短装备修理周期，提高工作效率。 |
| 刊期名称： | 2013年08期 |
| 出版时间： | 2013年8月 |
| 上线时间： | 2013年8月28日 |
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