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| 稿件标题： | 强电磁干扰下全电子引信通信孔的可靠性分析 |
| 稿件作者： | 陈瑾1，李明2，彭志凌1，夏禹1 |
| DOI： | 10.11809/bqzbgcxb2022.08.021 |
| 科学编辑： | 丁凯 博士（ 近地面探测技术重点实验室） |
| 栏目名称： | 装备理论与装备技术 |
| 关键词： | 电磁干扰；电子安全系统；HFSS；可靠性 |
| 文章摘要： | 为研究某型配备全电子安全系统的导弹在强电磁干扰下出现早炸，导致武器系统整体可靠度不高，通过在HFSS软件中建立了引信模型，仿真得出引信外壳上的通信孔的不同尺寸在150 kV、1~10 GHz强电磁脉冲干扰下引信内部的电场强度，结合全电子引信起爆电路计算附加在高压储能电容两端的干扰电压，以高压开关的自击穿电压为边界条件计算不同通信孔引信起爆模块的可靠度。首次以全电子安全系统的实际工况为背景，把握通信孔尺寸，结合电磁仿真软件，探究其对武器系统可靠性的影响，该方法可为计算其他参数对全电子引信可靠度提供借鉴，同时也为全电子引信的电磁兼容设计提供依据。 |
| 稿件基金： | 毁伤技术重点学科研究基金项目(DXMBJJ2020-01) |
| 引用本文格式： | 陈瑾，李明，彭志凌，等.强电磁干扰下全电子引信通信孔的可靠性分析［J］.兵器装备工程学报，2022，43(08)：135-139. CHEN Jin, LI Ming, PENG Zhiling, et al.Reliability analysis of communication hole of full electronic fuse under strong electromagnetic interference［J］.Journal of Ordnance Equipment Engineering，2022，43(08)：135-139. |
| 刊期名称： | 2022年08期 |
| 出版时间： | 2022年8月 |
| 上线时间： | 2022年8月28日 |
| 浏览次数： | 2483 |
| 下载次数： | 342 |
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