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| 稿件标题： | 光学微腔品质因数的测试 |
| 稿件作者： | 李杰，贾鹏飞 |
| 栏目名称： | 其他研究 |
| 关键词： | 微盘腔； 品质因数； 耦合系统 |
| 文章摘要： | 对 Ｑ值的影响因素进行了分析， 得出耦合系统的 ３个关键耦合状态， 欠耦合、 临近耦合和过耦合； 通过拉制纳米光纤锥和搭建耦合系统对微盘腔进行了测试， 得到 Ｑ值为３ ２×１ ０ ５ 。 |
| 稿件基金： | 国家自然科学基金资助项目（ ６ ０ ７ ７ ８ ０ ２ ９ ） |
| 刊期名称： | 2011年04期 |
| 出版时间： | 2011年4月 |
| 上线时间： | 2011年4月28日 |
| 浏览次数： | 3340 |
| 下载次数： | 4183 |
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