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| 稿件标题： | 基于非线性维纳过程的末制导炮弹控制舱光耦贮存寿命评定 |
| 稿件作者： | 张烜工1，穆希辉2 |
| 栏目名称： | - |
| 关键词： | 光电耦合器；贮存可靠性；维纳过程；随机变量阿伦尼乌斯方程；时间-尺度变换 |
| 文章摘要： | 以光耦的漏电流参数为刻画对象，使用维纳过程对其进行描述。但使用维纳过程描述不同光耦漏电流退化的个体性差异，以及漏电流非线性数据的处理以及明确失效阈值的缺乏，是目前亟待解决的问题。对线性维纳过程进行了改进，建立了随机变量阿伦尼乌斯方程，以对漂移系数λ进行随机化处理，其次利用时间-尺度变换公式解决了非线性数据转变为线性数据的问题，最后使用两步极大似然估计对参数进行估计。针对缺乏明确失效阈值的问题，设立了游动阈值对可靠度进行了讨论。最终评定在长储环境下光耦的t0.9为25.4年至27.5年。 |
| 稿件基金： | 高过载条件下复杂机电设备贮存寿命评估（61471385） |
| 引用本文格式： | 张烜工，穆希辉.基于非线性维纳过程的末制导炮弹控制舱光耦贮存寿命评定［J］.兵器装备工程学报，2019,40(4):75-78. ZHANG Xuangong，MU Xihui.Evaluation of Optocoupler Storage Life of Terminal Guided Projectile Based on Nonlinear Wiener Process［J］.Journal of Ordnance Equipment Engineering,2019,40(4):75-78. |
| 刊期名称： | 2019年04期 |
| 出版时间： | 2019年4月 |
| 上线时间： | 2019年4月28日 |
| 浏览次数： | 2888 |
| 下载次数： | 630 |
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