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| 稿件标题： | 电容近炸引信高频部件储存性能试验研究 |
| 稿件作者： | 王洪岩1，吴英伟2，路志爽3 |
| 栏目名称： | - |
| 关键词： | 电容近炸引信；高频部件；储存性能试验；振荡电压；检波电压；储存失效 |
| 文章摘要： | 对实际非密封储存2、4、6~12年的引信高频部件进行储存性能检测试验，结果表明，高频部件失效存在振荡电压峰峰值降低失效和检波电压降低失效两种；从储存第6年开始出现失效，储存6~12年分别失效4、5、7、10、7、6、10发；振荡电压峰峰值和检波电压均值均有下降趋势，但振荡频率和饱和检波电压未失效。 |
| 引用本文格式： | 王洪岩，吴英伟，路志爽.电容近炸引信高频部件储存性能试验研究［J］.兵器装备工程学报，2019,40(4):124-127. WANG Hongyan，WU Yingwei，LU Zhishuang.Performance of High Frequency Components of Capacitance Proximity Fuze［J］.Journal of Ordnance Equipment Engineering,2019,40(4):124-127. |
| 刊期名称： | 2019年04期 |
| 出版时间： | 2019年4月 |
| 上线时间： | 2019年4月28日 |
| 浏览次数： | 2755 |
| 下载次数： | 465 |
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