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| 稿件标题： | 提高低阻器件电阻测量精度的改进伏阻法 |
| 稿件作者： | 李文龙，张康 |
| DOI： | 10.11809/bqzbgcxb2021.S1.069 |
| 栏目名称： | 机械制造与检测技术 |
| 关键词： | 引信；低阻器件；高精密金属箔电阻；改进伏阻法 |
| 文章摘要： | 利用高精密金属箔电阻作为基准电阻，合理分配基准电阻与待测低阻器件的比值。由于电压的测量与测量挡位匹配，基准电阻与待测低阻器件两端的电压比等于基准电阻与待测电阻比，从而计算出低阻器件的阻值。验证结果表明：通过改进伏阻法，用万用表直流电压的伏特挡位测量基准电阻两端电压，用毫伏挡来测量低阻器件两端电压，可获得低阻器件高低温条件下的较高精度电阻值。 |
| 引用本文格式： | 李文龙，张康.提高低阻器件电阻测量精度的改进伏阻法［J］.兵器装备工程学报，2021,42(S1):317-320,324. LI Wenlong, ZHANG Kang.Improved VoltResistance Method to Improve Resistance Measurement Accuracy of Low Resistance Devices［J］.Journal of Ordnance Equipment Engineering,2021,42(S1):317-320,324. |
| 刊期名称： | 2021年增刊1期 |
| 出版时间： | 2021年7月 |
| 上线时间： | 2021年7月27日 |
| 浏览次数： | 2572 |
| 下载次数： | 631 |
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